Artículo 114 de la Ley Federal de Protección a la Propiedad Industrial
Título segundo. De las Invenciones, Modelos de Utilidad, Diseños Industriales y Esquemas de Trazado de Circuitos Integrados · Capítulo VI. De la Tramitación de Patentes
Texto vigente · última reforma publicada en el DOF el 3 de abril de 2026
Cuando a juicio del Instituto sea necesario para efectuar el examen de fondo, se podrá requerir a la persona solicitante para que exhiba información o documentación adicional o complementaria, incluida aquélla relativa a la búsqueda o examen practicado por oficinas extranjeras, en el plazo al que se refiere el artículo 111 de esta Ley.
El Instituto podrá considerar o requerir el resultado del examen de fondo o su equivalente realizado por oficinas extranjeras de patentes, el cual será contemplado como un documento de apoyo técnico para el efecto de determinar si la invención, cuya patente se solicita, cumple con los requisitos establecidos en esta Ley.
La persona solicitante podrá presentar una copia de la patente respectiva otorgada por la oficina extranjera de propiedad industrial que corresponda, con su traducción al español, para los efectos del párrafo anterior.